A JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (presidente e diretor de opera��es Izumi Oi) anuncia o lan�amento do JSM-IT800, um novo microsc�pio eletr�nico Schottky com varredura de emiss�o de campo, em maio de 2020.
Este comunicado de imprensa inclui multim�dia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20200525005296/pt/
JSM-IT800 (Photo: Business Wire)
Hist�rico do desenvolvimento
Os microsc�pios eletr�nicos de varredura (Scanning Electron Microscope, SEM) s�o utilizados em diversas �reas, entre elas, nanotecnologia, metais, semicondutores, cer�mica, medicina e biologia. As aplica��es SEM v�m se expandindo das atividades de pesquisa e desenvolvimento ao controle de qualidade e � inspe��o de produtos em f�bricas, e usu�rios de SEM necessitam de mais agilidade na aquisi��o de dados de alta qualidade e simplicidade na confirma��o de informa��es de composi��o com opera��es cont�nuas.
Para suprir essas demandas, o JSM-IT800 - equipado com a plataforma de tecnologia de intelig�ncia (Intelligence Technology, IT) - incorpora nossa pistola de el�trons de emiss�o de campo Schottky Plus na lente para fornecer imagens de alta resolu��o para r�pido mapeamento de elementos, al�m de um inovador sistema de controle �ptico "Neo Engine" e uma interface gr�fica de usu�rio "SEM Center" para a total integra��o de um espectr�metro de raios X dispersivo em energia (Energy Dispersive Spectrometer, EDS). E o JSM-IT800 � oferecido em duas vers�es com dois tipos de lente objetiva: a lente h�brida (Hybrid Lens, HL) para SEM de prop�sito geral e a lente super-h�brida (Super Hybrid Lens, SHL) para observa��o e diversas an�lises que requerem maior resolu��o.
Al�m disso, a vers�o SHL inclui um novo detector h�brido superior (Upper Hybrid Detector, UHD), que proporciona imagens com rela��o sinal-ru�do mais elevada.
Um novo detector de el�trons de difus�o retr�grada por cintilador (Scintillator Backscattered Electron Detector, SBED) e um detector de el�trons de difus�o retr�grada vers�til (Versatile Backscattered Electron Detector, VBED) tamb�m est�o dispon�veis com o JSM-IT800.
Caracter�sticas
1. Pistola de el�trons com emiss�o de campo Schottky Plus na lente
A integra��o aprimorada da pistola de el�trons e da lente condensadora de baixa aberra��o fornece mais brilho. A corrente de sondagem ampla est� dispon�vel a baixa tens�o de acelera��o (100 nA a 5 kV). �nico, o sistema Schottky Plus na lente possibilita diversas aplica��es, desde imagens de alta resolu��o at� r�pido mapeamento de elementos, an�lise de difra��o por difus�o retr�grada de el�trons (Electron Backscatter Diffraction, EBSD) e espectroscopia por emiss�o suave de raios X, tudo sem a necessidade de alterar as condi��es da lente.
2. Neo Engine (novo mecanismo �ptico de el�trons)
O Neo Engine � um inovador sistema �ptico de el�trons que re�ne v�rios anos das principais tecnologias da JEOL. Os usu�rios podem realizar uma observa��o est�vel mesmo em condi��es de observa��o e an�lise em constante mudan�a. A alta capacidade de opera��o para fun��es autom�ticas � ainda mais aprimorada.
3. SEM Center/integra��o de EDS
Uma interface gr�fica de usu�rio "SEM Center" � totalmente integrada, assim como o EDS da JEOL, para opera��es mais cont�nuas e intuitivas. O JSM-IT800 pode ser aprimorado com a incorpora��o de complementos de software opcionais, como o SMILENAVI para ajudar usu�rios iniciantes e o filtro de melhoria visual de imagens ao vivo (Live Image Visual Enhancer - AI, LIVE-AI).
4. Vers�es de lente h�brida (Hybrid Lens, HL) e lente super-h�brida (Super Hybrid Lens, SHL)
Com base em uma combina��o da lente eletrost�tica e de campo eletromagn�tico, est�o dispon�veis dois tipos de lente objetiva para atender a diversas necessidades de usu�rios, proporcionando imagens de elevada resolu��o espacial de uma grande variedade de amostras, desde materiais magn�ticos at� isoladores, com os recursos do JSM-IT800.
5. Detector h�brido superior (Upper Hybrid Detector, UHD)
Incorporado � lente objetiva na vers�o SHL, o UHD melhora consideravelmente a efici�ncia de detec��o, possibilitando a obten��o de imagens com rela��o sinal-ru�do mais elevada.
6. Novos detectores de el�trons de difus�o retr�grada
Opcional, o detector de el�trons de difus�o retr�grada por cintilador (SBED) oferece alta capacidade de resposta e � ideal para obter imagens de contraste de materiais a baixa tens�o de acelera��o. Tamb�m opcional, o detector de el�trons de difus�o retr�grada vers�til (Versatile Backscattered Electron Detector, VBED), que conta com um projeto de elemento detector segmentado, permite que o usu�rio opte por configurar segmentos individuais ou utilizar as configura��es predefinidas do detector para obter imagens com informa��es tridimensionais, topogr�ficas ou composicionais.
Meta de vendas
1) JSM-IT800 vers�o SHL: 90 unidades/ano 2) JSM-IT800 vers�o HL: 50 unidades/ano
JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, T�quio, 196-8558, Jap�o Izumi Oi, Presidente e Diretor de Opera��es (C�digo de a��es: 6951, primeira se��o da Bolsa de Valores de T�quio) www.jeol.com
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